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ビット誤り率測定器
ビット誤り率測定器
装置概要
温度変化と測定を統合
高効率な光トランシーバ用ビット誤り率検証装置（BERT）
近年、データ通信のビットエラー測定において、温度変化を与えながら測定を行うニーズが出てきました。Haituo社ETS-120-B610Dは、このニーズに応える統合ソリューションとして開発された装置です。
装置情報
光トランシーバ用ビット誤り率測定器(BERT)
ETS-120-B610D
従来の構成:これまでは、ビットエラー測定器、測定モジュール、そして温度変化を与える装置の3つの装置、アタッチメントが必要でした。
Haituo社ETS-120-B610Dは、これら3つの機能を一つに集約した装置です。
導入分野
光通信用モジュール、光ファイバーの信頼性試験
- 400G、800Gの様々なパッケージに対応
- 装置内に冷却を含め温度印加機能が内蔵
- インターフェースはシンプルで操作が容易
- 配線が短くなるため浮遊容量等が最小限に抑えられる
- 低コストの統合ソリューション
